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0Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元,以测试IC器件。其中,Max TC广泛应用于芯片可靠性测试领域,包括但不限于材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试以及失效分析等可靠性试验。它特别适用于对芯片进行高温、低温或高低温环境下的性能测试,以确保芯片在各种恶劣条件下的稳定性和可靠性。 提供全国范围内的Max TC接触式高低温冲击机设备故障的快速支持,并可在我们的工厂进行
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2有没有熟悉chroma机台的大佬协助开发一下测试程序,价格和方式肯定能满意,跪求感兴趣的大佬联系
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0IGBT模块是新能源汽车三电系统里相当值钱的重要部件,电机控制器核心元件。搭载接触式高低温冲击机对其进行高低温试验,模拟外界温度变化对IGBT的影响,验证器件或模块的整体结构和材料的可靠性。 接触式高低温冲击机拥有-70~200℃的测温范围,通过定制的冷盘直接与被测件接触,试验精度更高,满足IGBT温度冲击试验的要求,同时也能做特性分析,高低温温变测试,失效分析等可靠性试验。
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0HAST是Highly Accelerated Stress Test的简称,中文名为高加速应力试验(高加速温湿度应力测试)。是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。 HAST可以快速激发 PCB 和芯片的特定失效,例如分层、开裂、短路、腐蚀及爆米花效应。 湿气所引起的故障原因:水汽渗入、聚合物材料解聚、聚合物结合能力下降、腐蚀、空洞、线焊点脱开、引线间漏电、芯片与芯片粘片层脱开、焊盘腐蚀、金属化或引线间短路。 水汽进入IC封装的
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0高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。 高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统 热流仪TS580B与德国Instrument Systems DMS 液晶显示屏测量系统(原AUTRONIC-MELCHERS)联用进行 LED 高低
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0日本平山HAST高加速寿命试验箱维修 维修主要维修类别: 1 控制系统(温度不受控、湿度不受控,控制器温湿度较正,控制系统不能正常工作、传感器失效、电子门锁更换修理等) 2 制冷系统、管道破裂焊接、维修膨胀阀、更换过滤器、加注压缩机润滑油、清洁冷凝器、加装针阀等 3 加热系统(维修加热器、更换可控硅、固态继电器、接触器、时间继电器、中间继电器、加热高温线更换,加加热器等) 4 机械系统(维修循环马达,风机叶片、改善循环风
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0电子测试领域充满了自己的技术术语,这对于外行来说可能会令人不知所措。除了“老化测试”这个术语之外,您可能听说过其他可靠性测试服务,例如高加速提升测试和高加速应力筛选。但这些术语是什么意思呢?它们与老化测试有何不同? 高加速寿命测试 (HALT),与老化测试有许多相似之处。事实上,老化测试可以被视为 HALT 的一种。这是因为 HALT 不是一种特定的测试,而是一种测试方法。 与老化测试类似,HALT 通常在产品开发的早期阶段进行。
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0测试过程中使用的老化测试类型将取决于不同的要求。如果不确定哪种测试方法最适合,可以参照以下三种不同类型的可用测试及其优缺点,来选择适用的方法。 1.静态测试 在静态老化测试期间,将温度和电压施加到每个部件,而不操作或锻炼每个部件。这个过程相对简单。只需将探头安装到环境室中,然后将环境室升至所需温度即可。随后,将所需电压施加到半导体元件。由于静态老化成本低且简单,许多制造商选择使用静态老化。 然而,这种测
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0半导体芯片的性能与温度密切相关。在芯片制造完成后,需要进行温度测试与校准,以确保其在不同环境下的正常工作。接触式高低温冲击机能够提供稳定的温度环境,为芯片的测试和校准提供可靠支持。 微电子器件的制造过程对温度要求非常严格。接触式高低温冲击机能够提供稳定的温度环境和快速的温度响应,确保器件材料的成膜、腐蚀、光刻等工艺的精确控制,从而保证器件性能的稳定和可靠。 接触式高低温冲击机的特点: · 能够实现高精度
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1HAST高加速应力试验,是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。该测试通过在受控的压力容器内设定特定的温湿度条件,模拟产品在恶劣环境下的性能表现。HAST试验能够加速老化过程,如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化,从而缩短产品可靠性评估的测试周期,节约时间和成本。 HAST测试的目的是三个方面:首先,评估芯片在高温高湿环境下的稳定性,以确保芯片能够在恶劣的应用环境中长时间稳定工作;其次,
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1接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备。该设备通过测试头与待测器件(DUT,Device Under Test)直接贴合的方式实现能量传递,从而实现对芯片的高低温测试。这种方式相比传统气流式高低温设备(如热流仪、温箱等)具有更高的升降温效率和操作便捷性。 主要特点 升降温效率高:由于采用直接接触的方式传递能量,因此升降温速度更快,节省工程师的时间,提高测试效率。 操作简单方便:设备设计简洁,操作界面友好,工程师可
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